在找晶體管檢測(cè)機(jī)構(gòu)?百檢網(wǎng)為您提供晶體管檢測(cè)服務(wù),專(zhuān)業(yè)工程師對(duì)接確認(rèn)項(xiàng)目、標(biāo)準(zhǔn)后制定方案,包括晶體管檢測(cè)周期、報(bào)價(jià)、樣品等,確認(rèn)無(wú)誤后安排寄樣檢測(cè),晶體管檢測(cè)常規(guī)周期3-15個(gè)工作日,歡迎咨詢(xún)。
檢測(cè)樣品:紡織品、化妝品、食品、農(nóng)產(chǎn)品、絕緣工具、五金件等
報(bào)告資質(zhì):CNAS/CMA/CAL
報(bào)告周期:常規(guī)3-15個(gè)工作日,特殊樣品、檢測(cè)項(xiàng)目除外。
檢測(cè)費(fèi)用:根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目收費(fèi),詳情請(qǐng)咨詢(xún)百檢網(wǎng)。
晶體管檢測(cè)項(xiàng)目:
發(fā)射極-基極擊穿電壓V(BR)EBO,發(fā)射極-基極截止電流IEBO,基極-發(fā)射極飽和電壓VBEsat,正向電流傳輸比hFE,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CEO,集電極-發(fā)射極截止電流ICEO,集電極-發(fā)射極截止電流ICER,集電極-發(fā)射極截止電流ICES,集電極-發(fā)射極截止電流ICEX,集電極-發(fā)射極飽和電壓VCEsat,集電極-基極擊穿電壓V(BR)CBO,集電極-基極截止電流ICBO,漏源擊穿電壓,集電極-發(fā)射極擊穿電壓,發(fā)射極-基極截至電流IEBO,發(fā)射極電流為零時(shí)的集電極-基極擊穿電壓V(BR)CBO,基極-發(fā)射極飽和電壓VBEsat,常溫功率老煉,集電極-發(fā)射極截至電流ICEO,集電極-發(fā)射極飽和電壓VCEsat,集電極-基極截至電流ICBO,高溫反偏老煉,基射極電壓,射基極關(guān)態(tài)電流,射基極反向擊穿電壓,直流增益,穩(wěn)態(tài)熱阻,集基極反向擊穿電壓,集基電極關(guān)態(tài)電流,集射極反向擊穿電壓,集射極飽和壓降,集射電極關(guān)態(tài)電流,放大倍數(shù),集電極-發(fā)射極飽和電壓,放大倍數(shù)hFE,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR) CEO,密封性檢查,恒定加速度,正向電流傳輸比HFE,溫度循環(huán),穩(wěn)態(tài)功率,粒子碰撞噪聲檢測(cè)試驗(yàn)(PIND),高溫反偏,高溫壽命(非工作),發(fā)射極-基極擊穿電壓V(BR)EBO,發(fā)射極-基極截止電流IEBO,基極-發(fā)射極飽和電壓VBEsat,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CEO,集電極-發(fā)射極飽和電壓VCEsat,集電極-基極擊穿電壓V(BR)CBO,集電極-基極截止電流ICBO,共發(fā)射極電流放大倍數(shù),發(fā)射極—基極擊穿電壓,發(fā)射極—基極間漏電流,基極—發(fā)射極間非飽和壓降,基極—發(fā)射極飽和壓降,集電極—發(fā)射極擊穿電壓,集電極—發(fā)射極漏電流,集電極—發(fā)射極間飽和壓降,集電極—基極擊穿電壓,集電極—基極反向電流,共發(fā)射極正向電流傳輸比的靜態(tài)值,發(fā)射極-基極擊穿電壓,發(fā)射極-基極截止電流,柵-源截止電壓,柵-源閾值電壓,漏極電流,集電極-發(fā)射極截止電流,集電極-基極擊穿電壓,集電極-基極截止電流,高溫壽命,擊穿電壓,截止電流,直流放大倍數(shù),飽和壓降,基極-發(fā)射極飽和電壓,共射極正向電流傳輸比,共發(fā)射極正向電流傳輸比,共射極正向電流傳輸比(HFE),發(fā)射極-基極截止電流(IEBO),基極-發(fā)射極飽和電壓(VBEsat),晶體管集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CEX,集電極-發(fā)射極截止電流(ICEO),集電極-發(fā)射極飽和電壓(VCEsat),集電極-基極截止電流(ICBO),反向擊穿電壓,正向電流傳輸比,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CEO,集電極-發(fā)射極截止電流ICEO,發(fā)射極-基極擊穿電壓V(BR)EBO,集電極-基極擊穿電壓V(BR)CBO,集電極-基極截止電流ICBO,發(fā)射極-基極截止電流IEBO
百檢檢測(cè)流程:
1、電話(huà)溝通、確認(rèn)需求;
2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià);
3、郵寄樣品、安排檢測(cè);
4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;
5、出具報(bào)告、售后服務(wù);
6、如需加急、優(yōu)先處理;
晶體管檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):
1、GB/T 4587-1994 《半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管》 GB/T 4587-1994
2、GB/T4586-1994 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管 第Ⅳ章 第5節(jié)
3、GB/T 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 方法3011
4、GJB 128A-97 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128A-97
5、GJB128A-97 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 3011
6、MIL-STD-750F:2012 半導(dǎo)體測(cè)試方法測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 3066.1
7、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 方法3407
8、MIL-STD- 750F:2012 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 MIL-STD-750F:2012
9、 GJB128A-1997 GB4587-94 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法半導(dǎo)體分立器件和集成電路.第7部分:雙極型晶體管 GJB128A-1997 GB4587-94 4
10、GJB128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 方法3011
11、GB/T4587-1994 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分 雙極型晶體管 第Ⅳ章 第1節(jié)10
12、 GB/T 4587-1994 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 Ⅳ 2.7
13、GB/T 4587-1994 IV2.2 《半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶管》GB/T 4587-1994 IV2.2
14、GJB128A-1997 GB4587-94 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法半導(dǎo)體分立器件和集成電路.第7部分:雙極型晶體管 GJB128A-1997 GB4587-94 9.6
15、GJB128A-1997 GB4587-95 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法半導(dǎo)體分立器件和集成電路.第7部分:雙極型晶體管 GJB128A-1997 GB4587-95 5
16、GB/T 4587-94 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 第IV通用測(cè)試方法和基準(zhǔn)測(cè)試方法
17、GJB128A—1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 方法1039
18、GB/T 4587-1994 半導(dǎo)體分立器件和集成電路第7部分:雙極型晶體管 Ⅳ1/10
一份檢測(cè)報(bào)告有什么用?
產(chǎn)品檢測(cè)報(bào)告主要反映了產(chǎn)品各項(xiàng)指標(biāo)是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)中的合格要求,能夠?yàn)槠髽I(yè)產(chǎn)品研發(fā)、投標(biāo)、電商平臺(tái)上架、商超入駐、學(xué)校科研提供客觀的參考。
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